ノルム法補正X線回折シリカプログラムによるオーリチックス定量
bunken-searchノルム法補正X線回折シリカプログラムによるオーリチックス定量技術論文・技術報告・技術資料・研究ノート・特別寄稿・資料[T]10.11279/jfes.86.136201402ノルム法補正X線回折シリカプログラムによるオーリチックス定量Measurement of Oolitics Content by Correction X-ray Diffraction Silica Program with Norm Method枝根和也・天久裕樹・上林仁司・黒川豊(株式会社ツチヨシ産業)ノルム法補正X線回折シリカプログラムによるオーリチックス定量, Measurement of Oolitics Content by Correction X-ray Diffraction Silica Program with Norm Method, oolitics, silica program, green sand, norm method, X-ray diffractionVol.086-0136技術論文・技術報告・技術資料・研究ノート・特別寄稿・資料[T]n20999
| 分類 | 技術論文・技術報告・技術資料・研究ノート・特別寄稿・資料[T] |
|---|---|
| DOI | 10.11279/jfes.86.136 |
| 掲載年月 | 201402 |
| 論文名 | ノルム法補正X線回折シリカプログラムによるオーリチックス定量 |
| 論文名（英） | Measurement of Oolitics Content by Correction X-ray Diffraction Silica Program with Norm Method |
| 研究者 | 枝根和也・天久裕樹・上林仁司・黒川豊(株式会社ツチヨシ産業) |
| キーワード | ノルム法補正X線回折シリカプログラムによるオーリチックス定量, Measurement of Oolitics Content by Correction X-ray Diffraction Silica Program with Norm Method, oolitics, silica program, green sand, norm method, X-ray diffraction |
| 掲載ページ | Vol.086-0136 |
| ID | n20999 |
