一端焼入試験法によるADIの質量効果の評価法
bunken-search一端焼入試験法によるADIの質量効果の評価法講演概要・記念講演[M]198910一端焼入試験法によるADIの質量効果の評価法堤信久(早稲田大学)、内野知彦(早稲田大学)、西山修(早稲田大学)一端焼入試験法によるADIの質量効果の評価法116-0004講演概要・記念講演[M]n02909
| 分類 | 講演概要・記念講演[M] |
|---|---|
| DOI | |
| 掲載年月 | 198910 |
| 論文名 | 一端焼入試験法によるADIの質量効果の評価法 |
| 論文名（英） | |
| 研究者 | 堤信久(早稲田大学)、内野知彦(早稲田大学)、西山修(早稲田大学) |
| キーワード | 一端焼入試験法によるADIの質量効果の評価法 |
| 掲載ページ | 116-0004 |
| ID | n02909 |
