放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用

放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用講演概要・記念講演[M]10.11279/jfeskouen.164_122201405放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用上椙真之(JAXA), 土山明・安田秀幸(京都大学), 柳楽知也・中塚憲章(大阪大学), 杉山明(大阪産業大学), 上杉健太郎・星野真人(Spring-8/JASRI)放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用0164-0122講演概要・記念講演[M]n21643

分類講演概要・記念講演[M]
DOI10.11279/jfeskouen.164_122
掲載年月201405
論文名放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用
論文名(英)
研究者上椙真之(JAXA), 土山明・安田秀幸(京都大学), 柳楽知也・中塚憲章(大阪大学), 杉山明(大阪産業大学), 上杉健太郎・星野真人(Spring-8/JASRI)
キーワード放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用
掲載ページ0164-0122
IDn21643