放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用
放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用講演概要・記念講演[M]10.11279/jfeskouen.164_122201405放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用上椙真之(JAXA), 土山明・安田秀幸(京都大学), 柳楽知也・中塚憲章(大阪大学), 杉山明(大阪産業大学), 上杉健太郎・星野真人(Spring-8/JASRI)放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用0164-0122講演概要・記念講演[M]n21643
分類 | 講演概要・記念講演[M] |
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DOI | 10.11279/jfeskouen.164_122 |
掲載年月 | 201405 |
論文名 | 放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用 |
論文名(英) | |
研究者 | 上椙真之(JAXA), 土山明・安田秀幸(京都大学), 柳楽知也・中塚憲章(大阪大学), 杉山明(大阪産業大学), 上杉健太郎・星野真人(Spring-8/JASRI) |
キーワード | 放射光を利用したはやぶさ・はやぶさ2の帰還試料の分析手法の開発とその応用 |
掲載ページ | 0164-0122 |
ID | n21643 |