Ｘ線画像による欠陥計測法
bunken-searchＸ線画像による欠陥計測法連載講座・講義[S]200005Ｘ線画像による欠陥計測法Detection of Defects by Radiography福岡孝義(富士写真フィルム（株）)Detection of Defects by Radiography, Ｘ線画像による欠陥計測法, Ｘ線画像，欠陥計測法，Ｘ線，講座Vol.72-0372連載講座・講義[S]n10919
| 分類 | 連載講座・講義[S] |
|---|---|
| DOI | |
| 掲載年月 | 200005 |
| 論文名 | Ｘ線画像による欠陥計測法 |
| 論文名（英） | Detection of Defects by Radiography |
| 研究者 | 福岡孝義(富士写真フィルム（株）) |
| キーワード | Detection of Defects by Radiography, Ｘ線画像による欠陥計測法, Ｘ線画像，欠陥計測法，Ｘ線，講座 |
| 掲載ページ | Vol.72-0372 |
| ID | n10919 |
