Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響
Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響講演概要・記念講演[M]200110Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響佐々木正登((株)ユニシアジェックス)、神長美代志((株)ユニシアジェックス)、田上道弘(秋田大学)Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響139-0131講演概要・記念講演[M]n00748
分類 | 講演概要・記念講演[M] |
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DOI | |
掲載年月 | 200110 |
論文名 | Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響 |
論文名(英) | |
研究者 | 佐々木正登((株)ユニシアジェックス)、神長美代志((株)ユニシアジェックス)、田上道弘(秋田大学) |
キーワード | Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響 |
掲載ページ | 139-0131 |
ID | n00748 |