Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響

Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響講演概要・記念講演[M]200110Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響佐々木正登((株)ユニシアジェックス)、神長美代志((株)ユニシアジェックス)、田上道弘(秋田大学)Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響139-0131講演概要・記念講演[M]n00748

分類講演概要・記念講演[M]
DOI
掲載年月200110
論文名Al-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響
論文名(英)
研究者佐々木正登((株)ユニシアジェックス)、神長美代志((株)ユニシアジェックス)、田上道弘(秋田大学)
キーワードAl-Si-Cu合金の摩耗に及ぼすCu及びSi量と製造プロセスの影響
掲載ページ139-0131
IDn00748