X線回折によるオーリチィックの定量分析
bunken-searchX線回折によるオーリチィックの定量分析研究論文・論説[P]199903X線回折によるオーリチィックの定量分析Quantitative Analysis of Oolitics by X-Ray Diffractometer黒川豊(（株）ツチヨシ)、矢尾井潤(（株）ツチヨシ)、太田英明(中部科学技術センター)、三宅秀和(関西大学)Quantitative Analysis of Oolitics by X-Ray Diffractometer, X線回折によるオーリチィックの定量分析, oolitics, quartz, feldspar, silica program, X-ray diffractometric analysisVol.71-0177研究論文・論説[P]n10771
| 分類 | 研究論文・論説[P] |
|---|---|
| DOI | |
| 掲載年月 | 199903 |
| 論文名 | X線回折によるオーリチィックの定量分析 |
| 論文名（英） | Quantitative Analysis of Oolitics by X-Ray Diffractometer |
| 研究者 | 黒川豊(（株）ツチヨシ)、矢尾井潤(（株）ツチヨシ)、太田英明(中部科学技術センター)、三宅秀和(関西大学) |
| キーワード | Quantitative Analysis of Oolitics by X-Ray Diffractometer, X線回折によるオーリチィックの定量分析, oolitics, quartz, feldspar, silica program, X-ray diffractometric analysis |
| 掲載ページ | Vol.71-0177 |
| ID | n10771 |
