定電位電解腐食法による鋳鉄中のけい素偏析の検出
定電位電解腐食法による鋳鉄中のけい素偏析の検出研究論文・論説[P]197001定電位電解腐食法による鋳鉄中のけい素偏析の検出Detection of Silicon Segregation in Cast Iron by Means of Potentiostatic Etching Technique佐藤敬(東北大学)、音谷登平(東北大学)Detection of Silicon Segregation in Cast Iron by Means of Potentiostatic Etching Technique , 定電位電解腐食法による鋳鉄中のけい素偏析の検出Vol.42-0031研究論文・論説[P]n07680
分類 | 研究論文・論説[P] |
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DOI | |
掲載年月 | 197001 |
論文名 | 定電位電解腐食法による鋳鉄中のけい素偏析の検出 |
論文名(英) | Detection of Silicon Segregation in Cast Iron by Means of Potentiostatic Etching Technique |
研究者 | 佐藤敬(東北大学)、音谷登平(東北大学) |
キーワード | Detection of Silicon Segregation in Cast Iron by Means of Potentiostatic Etching Technique , 定電位電解腐食法による鋳鉄中のけい素偏析の検出 |
掲載ページ | Vol.42-0031 |
ID | n07680 |